Módosítások:

Az eredeti kapcsoláson az alábbiakat változtattam meg:

-         R40, L1: Az áramkört úgy terveztem meg, hogy mindent ki lehessen próbálni, meg lehessen mérni kontroller nélkül. A Q4 ellenőrzésénél az a probléma, hogy csak nagyon rövid ideig lehet a tranzisztort kinyitni, hiszen a kollektor körében levő induktivitáson igen nagy áram folyik. A kontroller a CCP moduljával csak nagyon rövid időkre vezérli nyitásba. Kontroller nélküli vezérlése sokkal hosszabb, a tranzisztor tönkre is menne a próba ideje alatt. Ahhoz, hogy nyugodtan ki lehessen próbálni a Q4 vezérlését, a kollektor körében elhelyeztem egy jumpert (J5) az induktivitással sorban és velük párhuzamosan egy kollektor ellenállást (100k). A kontroller nélküli méréseket a jumper nyitott állásában végezzük, normál működéshez zárjuk a jumpert. L1: 680uH / 100mA ellenállásszerű kivitel.

-         R38, R39, R41: A kontroller ill. műveleti erősítő beültetése nélküli tesztek elvégezhetőségének biztosítására a FET-ek egy-egy lezáró ellenállást kaptak a Gate és Source kivezetéseik közé.

-         A Vdd_TGT szűrése a C20 100nF kondenzátorral lehetséges. Az ICSP csatlakozó mellett is elhelyeztem egy tápszűrő kondenzátort C21.

-         A fejlesztendő rendszer MCLR jelét a J6, D5, R42 elemek segítségével a Vdd_TGT -re húzhatjuk.

-         A memória tovább bővíthető a J7, J71, J72 jumperekre illeszkedő segédkártyával. A bővítő kártyán elhelyezett újabb két EEPROM A1 cím vezetékét magas szintre kötöttem.